小型高低溫測試箱廠家選擇「科賽德檢測儀器」,獲得試驗箱行業公認倡導品牌,國內知名,小型高低溫測試箱優勢明顯。小型高低溫測試箱由東莞市科賽德檢測儀器專業為您量身定制,品質卓越,口碑出眾,咨詢訂購,歡迎來電,我們將竭誠為您服務!
小型高低溫測試箱主要用于對產品(電子電工、電器、半導體通訊、LED光電照明、LCD液晶屏幕、液晶電視、電阻模塊、PCB電路板、計算機配件、汽車零部件、五金模具、金屬電鍍、塑膠塑料、化工涂料、高分子材料等產品)按照國家標準要求或用戶自定要求,在高低溫恒溫;高低溫循環;高低溫老化條件下,對產品的物理以及其它相關特性進行環境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產品的性能來達到符合預定要求。
小型高低溫測試箱特點:
高強度、高可靠性的結構設計- 確保了設備的高可靠性;
工作室材料為SUS304不銹鋼- 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強,使用壽命長;
高密度聚氨酯發泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui小;
表面噴塑處理 – 保證設備的持久防腐功能和外觀壽命;
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設備大門的高密封性;
多種可選功能(測試孔、記錄儀、凈水系統等)保證了用戶多種功能和測試的需要;
大面積電熱防霜觀察窗、內藏式照明 –可以提供良好的觀察效果;
環保型制冷劑 –確保設備更加符合您的環境保護要求;
小型高低溫測試箱溫度控制:
可實現溫度定值控制和程序控制;
全程數據記錄儀(可選功能)可以實現試驗過程的全程記錄和追溯;
每臺電機均配置過流(過熱)保護/加熱器設置短路保護,確保了設備運行期間的風量及加熱的高可靠性;
USB接口、以太網通訊功能,使得設備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要;
采用國際流行的制冷控制模式,可以0%~100%自動調節壓縮機制冷功率,較傳統的加熱平衡控溫模式耗能減少30%;
制冷及電控關鍵配件均采用國際知名品牌產品,使設備的整體質量得到了提升和保證;
小型高低溫測試箱技術參數:
產品型號 | KSD-HL-80L | KSD-HL-150L | KSD-HL-225L | KSD-HL-408L | KSD-HL-800L | KSD-HL-1000L | |
?內部尺寸(cm) | 40×50×40 | 50×60×50 | 50×75 ×60 | 60×85×80 | 100×100×80 | 100×100×100 | |
?外部尺寸(cm) | 97×136×97 | 107×146×107 | 107×161×117 | 117×171×127 | 155×184×129 | 155×184×147 | |
性能 | ?控制方式 | ?平衡調溫調濕方式(BTHC)PID智能調節 | |||||
?溫度范圍 | ?0℃~150℃;-20℃~150℃;-40℃~150℃;-60℃~150℃ | ||||||
?溫度均勻度 | ?±2℃ | ||||||
?溫度波動度 | ?±0.3℃ | ||||||
?升溫速率 | ?≥3℃/min | ||||||
?降溫速率 | ?≥1℃/min | ||||||
材質 | ?內箱材質 | ?SUS304光亮不銹鋼板 | |||||
?外箱材質 | ?SUS304拉絲不銹鋼板或防銹處理冷扎鋼板 | ||||||
?保溫材質 | ?超細玻璃棉+聚胺脂泡沫 | ||||||
調節器 | ?制冷機 | ?全封閉法國泰康(或半封閉德國谷輪)壓縮機 | |||||
?制冷劑 | ?R23/R404A | ||||||
?冷凝方式 | ?風冷 | ||||||
?加熱器 | ?鎳鉻合金不銹管加熱器 | ||||||
?氣流方式 | ?寬帶式強迫氣流循環(上出下進) | ||||||
控制器 | ?操作界面 | ?液晶觸摸顯示屏,中英文切換(韓國TEMI880) | |||||
?運轉方式 | ?恒定運轉,程序運轉 | ||||||
?程序記憶量 | ?120組可編程序,每個程序最大999段 | ||||||
?分辯率 | ?溫度:0.1℃;濕度:0.1%RH | ||||||
?通訊功能 | ?RS-232接口 | ||||||
?附屬功能 | ?上下限報警,自診斷,報警顯示(故障原因),定時裝置(自動開關機) | ||||||
?標準配置 | ?觀察窗1個,測試孔1個,樣品架2層,熒光燈一個,供水箱1個 | ||||||
?安全裝置 | ?無熔絲開關,防干燒裝置,水系統保護裝置,極限高低溫保護,溫度偏差報警,超壓,過載,缺水,缺相等保護 | ||||||
?電源配置 | ?220V/380V 60/50Hz |
小型高低溫測試箱滿足以下標準:
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 jun用裝備實驗室環境試驗方法 第3部分:高溫試驗
GJB 150.4A-2009 jun用裝備實驗室環境試驗方法 第4部分:低溫試驗
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